Access

    Access via TIB

    Check availability in my library


    Export, share and cite



    Title :

    Chemische Charakterisierung und Echtzeitüberwachung des Prozessplasmas zur Herstellung von passivierenden Schichtsystemen mittels spektroskopischem Plasmamonitoring : im Verbundprojekt SIMPLEX "Simulation - Plasma - Analytik - Experiment: Hochheffiziente Vakuumbeschichtungen von passivierenden Schichtsystemen auf c-Si Solarzellen" : zur Förderbekanntmachung F&E für Photovoltaik vom 8. Mai 2013 : Schlussbericht zum Teilvorhaben : Förderprojekt SIMPLEX$HPLASUS GmbH ; Teilvorhabenleiter: Dr. Thomas Schütte, PLASUS GmbH


    Additional title:

    SIMPLEX "Simulation - Plasma - Analytik - Experiment: Hochheffiziente Vakuumbeschichtungen von passivierenden Schichtsystemen auf c-Si Solarzellen"


    Contributors:
    Schütte, Thomas (participant) / PLASUS GmbH (issuing body)

    Publication date :

    2018


    Size :

    25 Seiten


    Remarks:

    Illustrationen, Diagramme
    Förderkennzeichen BMWi 032574B. - Verbund-Nummer 01154817
    Unterschiede zwischen dem gedruckten Dokument und der elektronischen Ressource können nicht ausgeschlossen werden


    Type of media :

    Report


    Type of material :

    Print


    Language :

    German



    Classification :

    BKL:    52.78 Oberflächentechnik, Wärmebehandlung / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher







    Effiziente BEM-Simulation von absorbierenden Schichtsystemen

    Reiter, Paul / Ziegelwanger, Harald | TIBKAT | 2017