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    Der Kopfaufprall des Fußgängers auf die Pkw-Fronthaube

    Glaeser, K.P. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Prüfung

    Der Bahn-Prüfer

    Kümmerlen, Robert | IuD Bahn | 1998
    Schlagwörter: Prüfung

    Strain depending reliability of automotive diodes

    Galateanu, L. / Stoica, M.G. / Popa, E. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Prüfung von Halbleiterbauelementen

    Advanced IGBT modules for railway traction applications: Reliability testing

    Berg, H. / Wolfgang, E. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Prüfung von Halbleiterbauelementen

    Optimiertes Modell zur gewerkeübergreifenden Planung der Eisenbahninfrastruktur

    Martin, Ullrich | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: rechnerunterstützte Prüfung

    On-chip reliability investigations on power modules actually working in inverter systems

    Franke, T. / Honsberg-Riedl, M. / Simon, P. et al. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Prüfung von Halbleiterbauelementen

    Horizontal well performance evaluation tools and techniques

    Kuchuk, F.J. / Lenn, C. / Hook, P. et al. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Prüfung von Erdölbohrungen

    Failure Investigation/Evaluation System and Technical Aides (FIESTA)

    Davis, R.J. / Harrison, J. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: automatische Prüfung

    PACS and teleradiology at the 3rd Medical Group, Elmendorf AFB, Alaska

    Vanderburgh, D.F. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Prüfung

    Development of Non-stop Toll Collection System

    Murakoshi, H. / Hamana, M. / Miyamoto, K. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Test (Prüfung)

    Multilayer alumina substrates for ECU (automotive electronics)

    Sugai, K. / Matsumoto, H. / Shimojyou, Y. et al. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Prüfung integrierter Schaltungen

    Soldered flip chip IC's in automotive applications

    Thor, V. / Appel, K. / Nover, M. et al. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Prüfung integrierter Schaltungen

    The effects of cyclic thermal loading on n-type 4H-SiC device components for EM-gun pulsers

    Cole, M.W. / Hubbard, C. / Demaree, D. et al. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Prüfung von Halbleiterbauelementen

    Alternative solders for flip chip applications in the automotive environment

    Jung, E. / Heinricht, K. / Kloeser, J. et al. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Prüfung integrierter Schaltungen

    Results of assembly and reliability investigation of an MCM-L for an automotive application: electronic control unit

    Joly, J. / Lambert, D. / Ansorge, F. et al. | Tema Archiv | 1998
    Schlagwörter: Prüfung integrierter Schaltungen

    Verlängerung des Berufsausbildungsverhältnisses bei krankheitsbedingter Versäumung des Prüfungstermin

    Studiengesellschaft für den kombinierten Verkehr e.V. | IuD Bahn | 1999
    Schlagwörter: Prüfung

    Die Qual der Wahl

    Assessment-Center-Verfahren machen die Personalauswahl zielgenauer
    Rosner, Ludwig | IuD Bahn | 1999
    Schlagwörter: Prüfung (Personal)

    Qualitätssicherung mit optischen Meßsystemen bei DaimlerChrysler

    Schyroki, J. | Tema Archiv | 1999
    Schlagwörter: zerstörungsfreie Prüfung , optische Prüfung

    Testumgebung zur automatisierten Funktionsprüfung von Fahrzeugsteuergeräten

    Krömke, C. | Tema Archiv | 1999
    Schlagwörter: rechnerunterstützte Prüfung