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    In-process-Charakterisierung von Oberflächen-Mikrotopographien mittels Specklekorrelations-Verfahren

    Patzelt, Stefan / Lehmann, Peter / Ciossek, Andrea | IuD Bahn | 2000

    3D-Scans von einem handgeführten Laser-Scanner

    Puttkamer, Ewald von / Hamfeld, Helmut / Dieterich, Ewald | IuD Bahn | 2001

    Berührungslose Magnetoelastische Sensoren

    Tewe, Michael | IuD Bahn | 2001

    Magnetische Sensoren auf Basis des AMR-Effekt

    Dietmayer, Klaus C. J. | IuD Bahn | 2001

    Passive funkauslesbare Sensoren

    Reindl, Leonhard | IuD Bahn | 2001

    Automatische Gussfehlererkennung: Stand der Technik

    Mery, Domingo / Jaeger, Thoma / Filbert, Dieter | IuD Bahn | 2001

    Multifunktioneller Ölzustandssensor für Automobilanwendungen

    Jakoby, Bernhard / Eisenschmid, Heinz / Schatz, Oliver | IuD Bahn | 2001

    Untersuchungen zur Gleichzeitigen Längen- und Winkelmessung mit einem Planspiegelinterferometer

    Wang, Yung Cheng / Manske, Eberhard / Jäger, Gerd | IuD Bahn | 2001