Die Leistungsfähigkeit eines Laser-Ultraschall-Systems wird mit praxisnahen Testfehlern demonstriert. Das System erzeugt mit einem YAG-Laser und einem Beugungsgitter einen Array von Bestrahlungspunkten, mit denen schmalbandige Ultraschallimpulse von Lambwellen definierter Frequenz und Dauer produziert werden. Die Schallimpulse werden interferometrisch mit zwei Glasfasersonden registriert. Im ersten Anwendungsbeispiel wurde ein 15 mm langer Riß am Horn einer Flugzeugfelge durch Rißechos nachgewiesen. Über die Messung des Reflexionskoeffizienten ließ sich die Rißlänge quantitativ gut bewerten. Das zweite Beispiel betraf den Nachweis von zwei gegenüberliegenden, ermüdungsrißähnlichen Einschnitten an einer Nietsenkung eines Aluminiumblechs, das mit einem zweiten, gleichartigen Blech von 2 mm Dicke vernietet war. Bei dieser Prüfung befand sich die eine Interferometersonde auf dem Nietkopf, die andere auf dem Aluminiumblech. Im dritten Beispiel wurde durch Abtastung eines Blechs eine als nicht zugänglich simulierte Bohrung tomographisch abgebildet. Diese Art der Bildrekonstruktion funktionierte auch im Falle von zwei Bohrungen von ca. 10 mm Durchmesser und 3 mm Abstand in dem 0,75 mm dicken Aluminiumblech. (Richter, H.)


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    Titel :

    Laser-based ultrasonics for flaw detection


    Weitere Titelangaben:

    Fehlernachweis mit lasergestütztem Ultraschall


    Beteiligte:
    Huang, J. (Autor:in) / Nagata, Y. (Autor:in) / Krishnaswamy, S. (Autor:in) / Achenbach, J.D. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    1994


    Format / Umfang :

    5 Seiten, 11 Bilder, 7 Quellen



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Laser-Based Ultrasonics for Crack Detection

    Fomitchov, P. / Kromine, A. / Krishnaswamy, S. et al. | British Library Conference Proceedings | 1999


    Flaw detection bracket and ultrasonic flaw detector

    LIU ZHENNAN / ZHOU XINHANG / LU JIYA et al. | Europäisches Patentamt | 2020

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    DU FANG / XU FENG / ZHAO XIAOWEI et al. | Europäisches Patentamt | 2023

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