Vorgestellt wird eine Anlage zur Messung von Schutzschichten auf Flugzeugkomponenten, die vor Korrosion infolge Nässe schützen. Die Schichten sind mindestens 1 mm dick. Die Reflexion der Mikrowellen an dielektrischen Schichten hängt von der Reflexion an der Oberfläche der Schicht und der Dämpfung in der Schicht ab. Der Einfluß des Übergangswerkstoffs wird durch die Wahl der Meßfrequenz erfaßt. Für die Anordnung werden Kalibrierkurven aufgestellt. Die Messungen erfolgen im Frequenzbereich von 12 bis 18 GHz. Das Gerät hat 2 Ku-Band-Antennen und einen GaAs-Mikrowellen-Detektor. Die Abstandsmessung der Wandler erfolgt mittels Ultraschallschwinger. Der Einfluß der Krümmung des Bauteils ist für den untersuchten Flugzeugteilbereich gering. (Tietz)


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    Titel :

    A microwave reflectometer for evaluating the thickness of protective coatings


    Weitere Titelangaben:

    Ein Mikrowellen-Reflektometer zur Bewertung der Dicke von Schutzschichten


    Beteiligte:
    Buckner, S.C. (Autor:in) / Heil, G.G. (Autor:in) / Domalewski, J.J. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    1994


    Format / Umfang :

    6 Seiten, 3 Bilder, 3 Quellen



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Portable Infrared Reflectometer for Evaluating Emittance

    Jaworske, D. A. / Skowronski, T. J. / University of New Mexico | British Library Conference Proceedings | 2000


    Portable infrared reflectometer for evaluating emittance

    Jaworske, Donald A. / Skowronski, Timothy J. | American Institute of Physics | 2000


    Three port tuned microwave reflectometer

    Brady, M. | Engineering Index Backfile | 1964


    Portable reflectometer

    FINKEL, M. | AIAA | 1969


    Portable Reflectometer

    Bevans, Jerry T. | AIAA | 1970