Die für die Raumfahrt entwickelten elektronischen Baugruppen wurden zur Feststellung ihrer Tauglichkeit für den Einsatz in einer radiaoaktiven Umwelt auf ihre Strahlungshärte getestet. Programmspeicher, Arbeitsspeicher und Prozessor wurden unverändert übernommen. Der Busabschluß und die Sonderplatine wurden im Labor erstellt. Es wurden Programme erstellt, die die wesentlichen Teile des Prozessorsystems einem kontinuierlichen (periodisch wiederholten) Funktionstest unterziehen. Die zeitliche Dauer und das Ergebnis der einzelnen Tests wurden in einem Signalverlauf zusammengefaßt und über den für Telemetrie vorgesehenen seriellen Datenausgang ausgegeben. Unter Bestrahlung sollten folgende Tests durchgeführt werden: 1. CPU-Test, 2. PROM-Test, 3. RAM-Test, 4. EDAC-Test. Der CPU-Test besteht aus dem 'Built-In-Test' in der Initialisierung. Der PROM-Test besteht aus dem Vergleich zweier möglichst großer PROM-Bereiche mit gleichem Inhalt. Der RAM-Test besteht aus dem Vergleich zwei möglichst großer RAM-Bereiche mit gleichem Inhalt. Nach dem ersten Bestrahlungsversuch konzentrierten sich die Untersuchungen im Entwicklungslabor auf die Logik-Bausteine, einschließlich Prozessor, RAMs und PROMs, um die Verteilung des erwarteten Stromanstiegs auf die Bauteile zu ermitteln. Der Stromanstieg während der Bestrahlung ist auf den erhöhten Stromverbrauch einiger (nicht aller) Bausteine der AC-Familie zurückzuführen. Hingegen erwiesen sich der Prozessor, die Speicherbausteine und der EDAC als unkritisch. Bemerkenswert dabei ist, daß bei Bausteinen vom gleichen Typ und aus demselben Los sehr voneinander abweichende Werte der Stromzunahme festgestellt wurden. Insgesamt wurde aus den Untersuchungen gefolgert, daß mit nicht raumfahrtqualifizierten strahlungsharten Bauteilen eine Strahlungshärte von mehr als 1 Mrad(Si) vorausgesagt werden kann. Damit können die weniger strahlungsbelasteten Bereiche bedient werden.
Raumfahrt-Computer für kerntechnische Anwendungen
1995
13 Seiten, 7 Bilder, 1 Tabelle
Aufsatz (Konferenz)
Deutsch
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