Im Artikel werden Prüfsysteme und Testverfahren für elektronische Baugruppen im Kraftfahrzeug untersucht. Im Vordergrund steht die Wirtschaftlichkeit. Vielfältige Entwicklungen der Elektronik im Kfz, z.B. die Steuerung sicherheitsrelevanter Systeme wie Airbag oder ABS (Antiblockiersystem), aber auch die Ausdehnung auf Nachtsichtsysteme, Datenkommunikation mittels Funk und die Vernetzung aller Systeme im Kfz, stellen neue Anforderungen an Prüfsysteme, die z.T. einander entgegen wirkende Eigenschaften berücksichtigen müssen und bewirken eine Zunahme der geforderten Testtiefe in der Produktion. Aus den Untersuchungen kristallisieren sich für die Produktion von Automobilelektronik zwei Prüfstrategien heraus. Das sind zum einen der MDA-Test (Manufacturing Defects Analyzer) auf Leiterplattenebene ohne begleitende Reparatur und ausschließendem intensiven Funktionstest, zum anderen eine Kombiteststrategie, wo die separat aufgeführten Prüfschritte des erstgenannten MDA-Tests in einem einzigen System zusammengefaßt sind. Im Sinne einer kostengünstigen Lösung kann jedoch keine generell optimale Lösung empfohlen werden. Für die Zukunft sind Aspekte der Prüfkostensenkung, wie kürzere Prüfzeiten, einfach zu erstellende Prüfprogramme, preisgünstigere Adapterprogramme, einfache Programmierung und Bedienung u.a. als Schwerpunkt zu sehen.


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    Titel :

    Automatische Testsysteme für elektronische Baugruppen der Automobilindustrie


    Beteiligte:
    Kundinger, K. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    1997


    Format / Umfang :

    11 Seiten, 4 Bilder, 1 Tabelle




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch