Ausgehend von integrierten GaAs-Schaltungen, Submikrometer-CMOS-Schaltungen, optoelektronischen Schaltungen und Leistungsschaltungen und ihrer Einordnung als Soft-Techniken, wird dargestellt, wie sie die Anforderungen der Raumfahrt erfüllen können. Dabei steht der Strahlungseinfluß (schweres Ion) auf das Gesamtsystem im Vordergrund. An die Beschreibung des Einflusses eines Einzelereignisses und seiner Simulation schließen sich Minderungsverfahren im Systemlevel und zugehörige Beispiele an. Dabei wird Bezug genommen auf speicher- oder datenbezogene Bauelemente. Die Beeinflussung durch Einzelereignisse kann durch verschiedene Maßnahmen verringert werden, wie zum Beispiel Verwendung von 3-5-Materialien, die Flanken-Triggerung, die Verwendung eines dynamischen Zeitfensters oder die Erhöhung der optischen Leistung bei optischen Faserverbindungen.


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    Titel :

    Single-event-effect mitigation from a system perspective


    Weitere Titelangaben:

    Verringerung des Einzelereigniseffekts aus der Systemsicht


    Beteiligte:
    LaBel, K.A. (Autor:in) / Gates, M.M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    IEEE Transactions on Nuclear Science ; 43 , 2 Part I ; 654-660


    Erscheinungsdatum :

    1996


    Format / Umfang :

    7 Seiten, 1 Bild, 1 Tabelle, 32 Quellen




    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch







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