Der im folgenden Artikel vorgestellte dreidimensionale Nahfeld-Scanner verkürzt den Entwurfsablauf deutlich. Zum einen kann das Nahfeld mit einer Auflösung von einigen Mikrometern sowohl im Zeitbereich mit bis zu 500ms als auch im Frequenzbereich bis max. 6 GHz erfasst werden. Dieses ist möglich, da die Kontur der Testobjekte optisch hochpräzise erfasst werden, so dass ein Messpfad der Nahfeldsonde vom System so berechnet und abgefahren werden kann, dass ein minimaler Messabstand erreicht wird. Da die elektrischen und magnetischen Feldgrößen in komplexer Form erfasst werden, können diese anschließend einem umfangreichen Post-Processing unterzogen werden. Dadurch können die unterschiedlichen Empfangscharakteristiken der einzelnen Nahfeldsonden kompensiert werden, wodurch erst eine verbesserte und feldrichtige Darstellung möglich wird. Des Weiteren kann auch das Nahfeld in anderen Raumpunkten prognostiziert werden. Damit kann z.B. die Nahfeldmessung in eine Feldverteilung für einen weiter entfernten Bereich umgerechnet werden oder die Feldverteilung in einem Abstand vom Testobjekt berechnet werden, der durch die Sonden nicht erreichbar ist. Ein weiterer Vorteil zeigt die Analyse der Modifikation eines Prototypen direkt anhand der durch die Modifikation veränderte Nahfeldverteilung, wodurch die Fehleranalyse deutlich effizienter gestaltet werden kann.
Vorstellung eines verbesserten dreidimensionalen Nahfeld-Scanners zur automatischen Störfestigkeits- und Störabstrahlungsanalyse im Automotiv-Umfeld
Presentation of an improved three dimensional low distance scanner to analyse automatically the automotive interference resistance and emission
2010
8 Seiten, 7 Bilder, 10 Quellen
Aufsatz (Konferenz)
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