Die weiter zunehmende Vernetzung der Steuergeräte erfordert optimierte Methoden und Prozesse für die Absicherung der Elektronik. Ein wesentlicher Baustein zum Test der Elektronik ist der Hardware-in-the-Loop-Test der elektronischen Steuergeräte. Dieser wird von der Prüfung einzelner Steuergeräte über die Absicherung ganzer Domänen bis hin zur Abbildung des Gesamtfahrzeugs angewandt. Die ZF Friedrichshafen AG entwickelt und produziert als Systemlieferant in enger Partnerschaft mit den OEMs elektronisch geregelte Antriebs-, Lenkungs- und Fahrwerksysteme. Der Hardware-in-the-Loop-Test (HiL) der Steuergeräte ist dabei ein wichtiger Bestandteil des Entwicklungsprozesses. Dazu wird das reale Steuergerät in eine Echtzeitsimulationsumgebung eingebunden, die alle notwendigen Steuergeräteschnittstellen emuliert. So werden beispielsweise fehlende Busteilnehmer mittels einer Restbussimulation dargestellt. Der HiL-Test existiert je nach Testzielen und -inhalten in unterschiedlichen Ausprägungen. Zunächst werden die einzelnen Steuergeräte separat getestet. Im zweiten Schritt werden mehrere Einzelsysteme domänenspezifisch zusammengefasst und die Aspekte der Systemvernetzung geprüft. Letzter Schritt im Labor ist der Aufbau und Test der gesamten Fahrzeugelektrik und -elektronik (Brettaufbau). Schließlich werden alle Systeme in Prototypfahrzeugen einer eingehenden Prüfung unterzogen. Im Folgenden werden die Merkmale dieser verschiedenen HiL-Prüfstände beschrieben. Anschließend werden übergreifende Aspekte wie Testautomatisierung und Wiederverwendung besprochen. Abschließend werden einige kritische Erfolgsfaktoren für den effizienten Einsatz von HiL-Tests diskutiert.
Chancen und Grenzen von HiL-Tests
Chances and limits of HiL-tests
ATZ-Elektronik ; 4 ; 18-25
2006
7 Seiten, 7 Bilder, 4 Quellen
Aufsatz (Zeitschrift)
Deutsch
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