Die Anforderungen an Elektronikkomponenten sind im Automobilbau besonders hoch. So wird eine hohe Zuverlässigkeit bei teilweise rauen Umgebungsbedingungen verlangt und das bei geringen Kosten für die Elektronik. Besonders beim Einsatz der Elektronik in sicherheitsrelevanten X-by-wire-Anwendungen stellt sich die Frage nach der Ausfallsicherheit der Komponenten. Hier sind Maßnahmen zur Erkennung von Hard- bzw. Softwarefehlern unabdingbar. Da Steuergeräte zukünftig in größerem Umfang auch sicherheitstechnische Funktionen bedienen, muss die Hardware in die Lage versetzt werden, Fehler zu erkennen und zu orten. Eine solche Maßnahme ist die Integration des BIST-Verfahrens (built-in-self-test). Dieser überprüft die Logik und den RAM und muss fehlerhafte Knoten erkennen. Auch der Einsatz von Multicore-Lösungen wird unter Berücksichtigung des Sicherheitsaspekts zukünftig an Bedeutung gewinnen.


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    Titel :

    Performance, Qualität + ??? Anforderungen an Halbleiter für Automobilelektronik


    Beteiligte:
    Loch, Michael (Autor:in)

    Erschienen in:

    Elektronik Industrie ; 37 , 1/2 ; 70-71


    Erscheinungsdatum :

    2006


    Format / Umfang :

    2 Seiten, 2 Bilder



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch





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