Zur Verifikation von elektronischen Komponenten bezüglich ihrer elektromagnetischen Störfestigkeit werden im allgemeinen genormte Messungen in geschirmten Kammern durchgeführt, die im Entwicklungsprojekt erst zu einem relativ späten Zeitpunkt durchgeführt werden können. Der vorliegende Beitrag zeigt einen methodischen Ansatz, der durch die Kombination von Simulation und gezielten HF-Messungen, die ohne komplette Geräteprototypen auch auf dem Labortisch des Entwicklers durchgeführt werden können, realistische Störfestigkeitsprognosen mit akzeptablen Aufwand bereits in der frühen Entwurfsphase der Projekte ermöglicht. Die vorgeschlagene Methodik wird anhand von beispielhaften Stripline- und BCI-Prüfungen auf Fragestellungen, die den EMV Entwurf auf Leiterplatten- und IC-Ebene betreffen, angewendet und ihre Ergebnisse diskutiert.
Kombination von Schaltungssimulation und Messtechnik zur Reduktion der EMV-Entwicklungszeit am Beispiel von Kfz-Sensoren
Combined circuit design simulation amd measuring technologies to reduce the design development time of electromagnetic influence of vehicle sensing devices
2001
16 Seiten, 23 Bilder, 6 Quellen
Aufsatz (Konferenz)
Deutsch
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