This methodology can be used for all calculations of HIC, with all test devices having an upper neck triaxial load cell mounted rigidly to the head, and head triaxial accelerometers. This document is based on based on laws of physics and basic stable technology which is not dynamic in nature.


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    Titel :

    Test Device Head Contact Duration Analysis


    Erscheinungsdatum :

    2016-07-12



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch








    Effect of Long-Duration Impact on Head

    Thomas, L M. / Hodgson, V. R. | SAE Technical Papers | 1972