Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Microsecond carrier lifetime measurements in silicon via quasi‐steady‐state photoluminescence



    Erschienen in:

    Progress in photovoltaics ; 20 , 2 ; 238-246


    Erscheinungsdatum :

    2012



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Unbekannt


    Klassifikation :

    BKL:    53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher





    High-Frequency Impedance Measurements for Microsecond State Detection

    Kettle, Ryan A. / Dodson, Jacob C. / Anton, Steven R. | British Library Conference Proceedings | 2017



    Multi-Tonal Based Impedance Measurements for Microsecond State Detection

    Kettle, Ryan A. / Anton, Steven R. | British Library Conference Proceedings | 2018