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    Titel :

    X-Ray Moiré Techniques for Measuring Strain


    Erschienen in:

    NASA tech briefs ; 19 , 7 ; 46-47


    Erscheinungsdatum :

    1995



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    BKL:    50.00 Technik allgemein: Allgemeines / 50.00 / 55.60 Raumfahrttechnik / 55.60



    X-Ray Moire Techniques For Measuring Strain

    Madaras, Eric Irvine | NTRS | 1995


    Moire interferometric strain sensor

    Asundi, A. K. / Zhao, B. / SPIE et al. | British Library Conference Proceedings | 1999


    Measuring convergence or divergence power with moire fringes [2860-48]

    Malacara-Doblado, D. / Malacara-Hernandez, D. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1996


    Microstructural strain analysis of composites using high magnification moire interferometry

    Goldrein, H. T. / Palmer, S. J. P. / Huntley, J. M. et al. | British Library Conference Proceedings | 1996


    Micro-moire methods: optical and scanning techniques [4416-10]

    Asundi, A. K. / Xie, H. / Li, C. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001