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    Titel :

    COMPUTER MODELLING IN AN ELECTRIC FIELD: NANOMETRIC DESIGN WITH SCANNING TUNNELLING MICROSCOPE


    Beteiligte:
    Sheka, E. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    1994



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    Lokalklassifikation TIB:    275/7040
    BKL:    39.53 / 55.60 Raumfahrttechnik / 55.60 / 50.93 / 39.53 Planeten / 50.93 Weltraumforschung




    Scanning near-field optical microscope with a superfluorescent source

    Zhang, Guoping / Ming, Hai / Xie, Jiangping | SPIE | 1999


    NEW SCANNING MILLIMETER WAVEBAND ESR-MICROSCOPE WITH LOCALIZED MAGNETIC FIELD

    Belozorov, D. / Derkach, V. / Ermak, G. et al. | British Library Online Contents | 2006