Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Quality evaluation and improvement of iron-doped electromagnetic multycrystalline silicon wafers


    Beteiligte:


    Erscheinungsdatum :

    2002



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Klassifikation :

    BKL:    53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher / 52.52 Thermische Energieerzeugung, Wärmetechnik / 52.56 Regenerative Energieformen, alternative Energieformen / 50.70 Energie: Allgemeines





    Smoother Scribing of Silicon Wafers

    Danyluk, S. | NTRS | 1986


    Reciprocating Saw for Silicon Wafers

    Morrison, A. D. / Collins, E. R., Jr. | NTRS | 1985


    Automated Texturization of Silicon Wafers

    Chitre, S. / Snyder, C. / Jones, G. et al. | NTRS | 1985