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    Titel :

    Built-ln Diagnostics (BID) of Equipment-Systems


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    1995



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    BKL:    55.60 Raumfahrttechnik / 55.60 / 50.00 / 50.00 Technik allgemein: Allgemeines



    Built-In Diagnostics (BID) Of Equipment/Systems

    Granieri, Michael N. / Giordano, John P. / Nolan, Mary E. | NTRS | 1995



    Built-in-self-test and diagnostics for microsystems

    Olbrich,T. / Bradley,D.A. / Richardson,A.M. et al. | Kraftfahrwesen | 1994


    Built-in-Self-Test and Diagnostics for Microsystems

    Olbrich, T. / Bradley, D. A. / Richardson, A. M. D. et al. | British Library Conference Proceedings | 1994