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    Titel :

    TRL Fixture for Cryogenic Testing of Microwave Components


    Erschienen in:

    NASA tech briefs ; 22 , 8 ; 54-55


    Erscheinungsdatum :

    1998



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    BKL:    50.00 Technik allgemein: Allgemeines / 50.00 / 55.60 Raumfahrttechnik / 55.60



    Testing Fixture For Microwave Integrated Circuits

    Romanofsky, Robert / Shalkhauser, Kurt | NTRS | 1989



    O-Ring-Testing Fixture

    Turner, James E. / Mccluney, D. Scott | NTRS | 1991


    Battery cell testing fixture

    KOCH BRIAN J / MCALLISTER ASHLEY / CONELL ROBERT S | Europäisches Patentamt | 2019

    Freier Zugriff

    BATTERY CELL TESTING FIXTURE

    KOCH BRIAN J / MCALLISTER ASHLEY / CONELL ROBERT S | Europäisches Patentamt | 2018

    Freier Zugriff