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    Titel :

    Interpreting Archival Cross-Section vs. LET Fit Parameters Based On Data Quality


    Beteiligte:
    Ray Ladbury (Autor:in)

    Kongress:

    SEE-MAPLD Single Event Effects (SEE) Symposium/Military and Aerospace Programmable Logic Devices (MAPLD) Workshop ; 2022 ; La Jolla (San Diego), CA, US


    Erscheinungsdatum :

    2022-05-18


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    EOSDIS Data Archival

    Valerie Dixon / Jeanne Behnke / Andrew Mitchell | NTRS


    PiFEx data and archival formats

    Berner, Jeff B. | NTRS | 1988


    Intelligent archival data checking cart

    DU ZHIQIANG / WU YONG / LIU XIAOSHENG et al. | Europäisches Patentamt | 2015

    Freier Zugriff

    Automated Data Collection, Analysis, and Archival

    P. T. Martin / P. Wu | NTIS | 2003