SAR interferometry has enabled two important science applications: surface change detection and topographic mapping.


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    Titel :

    Overview of Polarimetric Interferometry


    Beteiligte:
    Kim, Y. (Autor:in) / van Zyl, J. (Autor:in)

    Kongress:

    2000 IEEE Aerospace Conference


    Erscheinungsdatum :

    18.03.2000


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch




    Overview of polarimetric interferometry

    Yunjin Kim / van Zyl, J. | IEEE | 2000


    Overview of Polarimetric Interferometry

    Kim, Y. / van Zyl, J. / Institute of Electrical and Electronics Engineers | British Library Conference Proceedings | 2000


    Theory for Polarimetric Interferometry

    Nghiem, S. V. / van Zyl, J. J. | NTRS | 1997


    SAR Polarimetric Interferometry (Pol-lnSAR)

    Boerner, W. M. / Cloude, S. / European Space Agency | British Library Conference Proceedings | 2005


    Multibaseline Polarimetric SAR Interferometry Coherence Optimization

    Neumann, Maxim / Ferro-Famil, Laurent / Reigber, Andreas | Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR) | 2008

    Freier Zugriff