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    Titel :

    Latent damage from single-event latchup


    Beteiligte:
    Becker, H. N. (Autor:in) / Miyahira, T. F. (Autor:in) / Johnston, A. H. (Autor:in)

    Kongress:

    2002 Single-Event Effects Symposium


    Erscheinungsdatum :

    2002-04-23


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    Single Event Latchup Protection of Integrated Circuits

    Layton, P. / Marshall, J. / Czajkowski, D. et al. | British Library Online Contents | 1997


    Single Event Latchup Protection of Integrated Circuits

    Layton, P. / Marshall, J. / Czajkowski, D. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997


    Single Event Latchup Results for COTS Devices Used on SmallSat Missions

    Parker, Wilson / Allen, Gregory / Irom, Farokh et al. | NTRS | 2020


    Single event latchup threshold estimation based on laser dose rate test results

    Chumakov, A.I. / Egorov, A.N. / Mavritsky, O.B. et al. | Tema Archiv | 1997


    Latchup in CMOS Integrated Circuits

    Soliman, K. A. / Nichols, D. K. | NTRS | 1985