The directional hemispheric reflecatance is measured for Spectralon, the material chosen for on-board radiometric calibration of the Multiangle Imaging SpectroRadiometer (MISR), at laser wavelengths of 442, 632.8 and 859.9nm.


    Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    The Measurement of the Directional Hemispherical Reflectance From Spectralon


    Beteiligte:
    Haner, D. A. (Autor:in) / McGuckin, B. T. (Autor:in) / Menzies, R. T. (Autor:in) / Bruegge, C. J. (Autor:in) / Duval, V. (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    01.09.1997


    Medientyp :

    Preprint


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    Cleaning Spectralon(TM) To Maintain Reflectance Properties

    Stiegman, Albert / Bruegge, Carl / Plett, Gary | NTRS | 1996




    Hemispherical emissivity by infrared reflectance

    del Pino, C. B. / van Eesbeek, M. / Rohr, T. et al. | British Library Conference Proceedings | 2005


    Polarization Characteristics of Spectralon Illuminated by Coherent Light

    Haner, D. / McGuckin, B. / Bruegge, C. | NTRS | 1999