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    Titel :

    Electromigration issues in state-of-the art and emerging metallization systems


    Beteiligte:
    Leon, R. (Autor:in) / Vu, D. (Autor:in) / Colon, J. (Autor:in) / Ruiz, R. (Autor:in) / Johnson, S. (Autor:in) / Okuno, J. (Autor:in) / Evans, K. (Autor:in) / Lloyd, J. R. (Autor:in)

    Kongress:

    NEPP Conference


    Erscheinungsdatum :

    2002-04-30


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch





    Metallization systems for integrated circiuts

    Beatty, Rosemary P. | TIBKAT | 1970



    Electromigration and Flux Residues

    Stary, J. / Vanysek, P. / Novak, V. | TIBKAT | 2021


    Silicon carbide metallization

    Lescoat, F. / Tanguy, F. / Durand, P. | IEEE | 2016