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    Titel :

    Reliability and qualification of advanced microelectronics for space applications


    Beteiligte:
    Kayali, S. A. (Autor:in)

    Kongress:

    Workshop on Micro-Nano Technology for Aerospace Applications


    Erscheinungsdatum :

    25.08.2002


    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch