Test circuit for silicon solar cells suppresses spurious effects. New circuit increases accuracy of measurements of recombination lifetime and effective surface recombination velocity in silicon solar cell. Fast electronic switch, circuit grounds forward-biased cell so rapidly transient voltage to be measured not affected significantly.


    Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Circuit for Lifetime and Surface-Recombination Measurements


    Beteiligte:
    Lindholm, F. A. (Autor:in) / Neugroschel, A. (Autor:in) / Jung, T. W. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    1986-11-01



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch