Report available that describes technique of photoelectron spectroscopy to measure shapes of threshold electron-attachment cross sections of various gases.


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    Titel :

    Electron-Attachment Profiles


    Beteiligte:
    Chutjian, A. (Autor:in) / Ajello, J. M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.04.1985



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :





    Electron Attachment at High Temperatures

    Ven H. Shui / Param I. Singh / Bennett Kivel et al. | AIAA | 1979


    Photoelectron spectroscopy by electron attachment

    Ajello, J. M. / Chutjian, A. | NTRS | 1977