Simple battery-powered test circuit will contribute negligible error when taking open-loop measurements of gain and phase parameters. This is especially helpful when measuring high-grain circuits containing integrators.


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    Titel :

    Gain and Phase-margin measurements


    Beteiligte:
    Pierce, B. D. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.06.1977



    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :