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    Titel :

    Full-range solution for the measurement of thin-film surface densities with proton-excited X rays.


    Beteiligte:

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    1972-10-01


    Medientyp :

    Sonstige


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    Thin film measurement on semiconductor surface in GHz-Thz frequency range

    Ming Li, / Cho, G.C. / Wang, S.-Q. et al. | IEEE | 1999




    Full Range : Fahrbericht Range Rover

    Koenig,W. / Land Rover,GB | Kraftfahrwesen | 2005


    Thin-Film Photovoltaic Proton Radiation Testing for a MEO Orbit

    Granata, Jennifer / Sahlstrom, Theodore / Hausgen, Paul et al. | AIAA | 2005