Maximum likelihood estimation of lot defectives based on curtailed attribute sampling


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    Titel :

    Curtailed attribute sampling


    Beteiligte:
    Cohen, A. C. (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    1969-01-01


    Medientyp :

    Report


    Format :

    Keine Angabe


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :