Bezugnehmend auf aktuelle Fragestellungen aus der metallverarbeitenden Industrie, wurde eine neue Messstrategie für die Inspektion technischer Oberflächen untersucht, die sich durch die systematische Verknüpfung unterschiedlicher Messverfahren und Anordnungen auszeichnet. Wesentlich für diese neue Herangehensweise ist, dass Sensoren mit definierten Mess- und Auflösungsbereichen nur dort zum Einsatz kommen, wo ihre Leistungsfähigkeit zur Lösung des Messproblems erforderlich ist. Die Entscheidung für den Einsatz eines speziellen Sensors hinsichtlich Zielgebiet und Auflösung wird dabei durch einen geeeigneten Merkmalserkennungsprozess getroffen. Dieser Prozess setzt die Anwendung solcher Merkmale voraus, die durch Skalenunabhängigkeit und hohe Signifikanz im Hinblick auf die gesuchten Fehlstellen gekennzeichnet sind. Erste diesbezügliche Untersuchungen haben gezeigt, dass die fraktale Geometrie einen vielversprechenden Ansatz für die skalenunabhängige Beschreibung rauher Oberflächen im Kontext der skalierbaren Topometrie bildet. Weitergehende Untersuchungen sind darauf gerichtet, die Repräsentanz der Merkmale und Erkennungstechniken für eine breite Klasse von technischen Oberfächen nachzuweisen.


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    Titel :

    Hochauflösende Vermessung ausgedehnter technischer Oberflächen mit skalierbarer Topometrie



    Erschienen in:

    tm - Technisches Messen ; 66 , 11 ; 413-428


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1999


    Format / Umfang :

    16 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch




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