Für die Erfassung und Prüfung von Oberflächen in Fertigungs- und Prüfprozessen werden oft automatisierte, möglichst berührungslose Messsysteme benötigt. Es wird beschrieben, wie mittels Laserstreulichtaufnahmen und anschließender Bildverarbeitung die Rauheit, Mikrostruktur oder z.B. oberflächliche Verformungsspuren erkannt werden können. Verwendungsmöglichkeiten liegen in der Oberflächenprüfung zur Qualitätssicherung, Erkennung bzw. Identifizierung von Werkstücken anhand der Oberfläche, bis in den Nanometerbereich genaue Positionierung von Werkstücken anhand von Oberflächenstrukturen usw. Durch Rückführung der Messaufgabe auf die Erfassung und Auswertung von Speckle-Mustern aus der Reflektion polychromatischen Streulichts und Verarbeitung von Wellenfrontdeformationen können Echtzeit-Messsysteme entwickelt werden, weil die verbliebene Bildverarbeitung nur noch minimale Verzögerung verursacht.


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    Titel :

    Bildverarbeitung und Simulation in der statistisch optischen Oberflächenmesstechnik


    Weitere Titelangaben:

    Image processing and simulation methods for statistic optical surface measuring technique



    Erschienen in:

    tm - Technisches Messen ; 75 , 10 ; 537-546


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2008


    Format / Umfang :

    10 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch




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