Für die segmentierte Bilderfassung von strukturierten Oberflächen wurde eine Methode entwickelt, die mittels Verarbeitung der Reflexionssignale einer Serien unterschiedlich beleuchteter Bildaufnahmen der zu untersuchenden Oberfläche die Unterschieden in den Strukturmerkmalen der Oberflächenabschnitte erkennt. In dem eindimensionalen Reflexionsmodell werden Intensität und Streuung von Beleuchtungsserien punktweise abgebildet und aus dem Maximum des Intensitätssignals die Oberflächennormale in jedem Punkt bestimmt. Aus dem Gradientenverlauf kann die Oberfläche des Messobjekts rekonstruiert werden. In Abhängigkeit von den Streueigenschaften ist eine Mindestanzahl von Bildern zur Erreichung einer hinreichenden Genauigkeit erforderlich. Die prinzipielle Praxistauglichkeit des Verfahrens wurde an einem Beispiel nachgewiesen.
Segmentierung strukturierter Oberflächen mittels variabler Beleuchtung
Segmentation of structured surfaces by using variable illumination
tm - Technisches Messen ; 73 , 4 ; 200-207
2006-01-01
8 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Deutsch
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