Heute benutzt man vorwiegend den In-Circuit-Test (ICT), um festzustellen, ob eine Baugruppe fehlerfrei hergestellt wurde. Durch die immer kleineren Bauteile jedoch ist dieser Test immer stärker eingeschränkt, da der Zugriff über Prüfnadeln problematischer wird. Automatische optische Inspektionssysteme (AOI) können Baugruppen mittels sichtbaren Lichts oder Röntgenstrahlen auf Fertigungsfehler (Lötstellen, Bauteile, Bestückung) überprüfen. Bei mittleren Stückzahlen, den üblichen Prozess-Abweichungen oder bei häufigen Änderungen (wie in Fertigungen mit hohem Baugruppen-Mix) zeigen AOI-Systeme aber deutliche Schwächen und sind nicht wirtschaftlich. Meist sind es die Prozess-Steuerungen, die Probleme bereiten. Diese Nachteile vermeidet der "Optische Prozess-Test". Der Beitrag wirft einen Blick hinter die empirische Programmentwicklung.


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    Titel :

    Der "Optische Prozess-Test" als Prüf-Alternative


    Untertitel :

    Teil 1: Möglichkeiten und Grenzen herkömmlicher AOI-Systeme


    Beteiligte:
    Arena, John (Autor:in)

    Erschienen in:

    Elektronik ; 52 , 14 ; 54-57


    Erscheinungsdatum :

    2003-01-01


    Format / Umfang :

    4 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Deutsch






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