In this paper, a simple optical-beam-induced-current (OBIC) method using Franz-Keldysh (FK) effect is proposed to map the electric fields inside InP substrate. Due to electroabsorption effect, the OBIC by excitation at nearly below bandgap can directly and in-situ maps the electric field inside the substrate.


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    Titel :

    Electric field probing by incorporating Franz-Keldysh electroabsorption effect and optical-beam-induced-current technique


    Beteiligte:
    Wen-Chin Cheng, (Autor:in) / Yi-Jen Chiu, (Autor:in) / Fu-Jen Kao, (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2005-01-01


    Format / Umfang :

    204244 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch