We provide an overview of developments in high-accuracy absolute optical metrology with emphasis on space-based applications. Specific work on the Modulation Sideband Technology for Absolute Ranging (MSTAR) sensor is described along with novel applications of the sensor.


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    Titel :

    Absolute Optical Metrology: Nanometers to Kilometers


    Beteiligte:
    Dubovitsky, S. (Autor:in) / Lay, O.P. (Autor:in) / Peters, R.D. (Autor:in) / Liebe, C.C. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2005-01-01


    Format / Umfang :

    188049 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch