Scanning probe microscopy was used to study femtosecond laser ablation of silicon as a function of laser wavelength, doping concentration, and sample temperature to gain a greater understanding of the femtosecond laser damage mechanism.


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    Titel :

    SEM and SPM studies of single-shot damage on silicon


    Beteiligte:
    Hsiao-hua Liu, (Autor:in) / Mourou, G. (Autor:in) / McDonald, J.P. (Autor:in) / Picard, Y.N. (Autor:in) / Yalisove, S.M. (Autor:in) / Juhasz, T. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    2005-01-01


    Format / Umfang :

    1936025 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Laser Damage of Optics in High Power Manufacturing Applications. The Road from Single-Shot to Billion-Shot Performance

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1993


    Short Shot Tower for Silicon

    Bates, H. E. / Hill, D. M. / Jewett, D. N. | NTRS | 1983



    SINGLE SHOT INJECTION MOLDED BAFFLE

    AYYASAMY SURESH | Europäisches Patentamt | 2018

    Freier Zugriff

    Probabilistic Damage Tolerance Analysis Considering Shot Peening Effect

    Xiang, Y. / Liu, Y. | British Library Conference Proceedings | 2009