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    Titel :

    A new four-port two-state reflectometer


    Beteiligte:
    Li Dunfu, (Autor:in) / Cheng Cujin, (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1989


    Format / Umfang :

    190179 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Three port tuned microwave reflectometer

    Brady, M. | Engineering Index Backfile | 1964



    Integrated Optical Six-Port Reflectometer in Silicon on Insulator

    Ortega-Monux, A. / Molina-Fernandez, I. / Wanguemert-Perez, J.G. et al. | British Library Online Contents | 2009