Trimming phase and birefringence errors in hydrogen-free Mach-Zehnder planar waveguide circuits have been demonstrated with a deep ultraviolet femtosecond laser (258nm, 150fs) achieving refractive index change of gt;3.8/spl times/10/sup -4/ and complete compensation of the intrinsic birefringence.


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    Titel :

    Trimming silica planar lightwave circuits using deep ultraviolet ultrafast lasers


    Beteiligte:
    Chen, K.P. (Autor:in) / Chen, Q. (Autor:in) / Buric, M. (Autor:in) / Nikumb, S. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005


    Format / Umfang :

    501194 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Trimming Silica Planar Lightwave Circuits Using Deep Ultraviolet Ultrafast Lasers

    Chen, K. | British Library Conference Proceedings | 2005


    Er3-Doped Silica-Based Planar Lightwave Circuits

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society / IEEE; Electron Devices Society | British Library Conference Proceedings | 1994


    Advances in Silica Planar Lightwave Circuits (Invited Paper)

    Doerr, C. R. / Okamoto, K. | British Library Online Contents | 2006



    Silica-based planar lightwave circuits for dense WDM application

    Yamada, H. / Suzuki, S. / Kawachi, M. | IEEE | 1995