In order to measure the anisotropic optical constants of thin films accurately, the sensitivity of attenuated total reflection curve is analyzed. According to the analysis, two curve fitting procedures are developed to determine two principal indices of refraction and principal axes orientation.


    Zugriff

    Zugriff prüfen

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Optical constants determination of an anisotropic thin film by attenuated total reflection method analyzed by sensitivity calculation


    Beteiligte:
    Yi-Jun Jen, (Autor:in) / Cheng-Yu Peng, (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    23077 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch