A new technique to test BGA substrate using the electro-optic probing technique is investigated. This technique can detect open circuits in the BGA substrate with high spatial resolution. Measurement results of a real BGA substrate are reported.


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    Titel :

    Non-contact electrical test of the BGA substrate by electro-optic probing technique


    Beteiligte:
    Kuo, W.K. (Autor:in) / Tong, D.Z. (Autor:in) / Wu, C.J. (Autor:in) / Lai, T. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2003-01-01


    Format / Umfang :

    72834 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Non-contact electrical test of the BGA substrate by electro-optic probing technique

    Kuo, W. K. / Tong, D. Z. / Wu, C. J. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003


    Research of spatial resolution in external electro-optic probing

    Zhang, Hongbo / Wang, Rui / Chen, Kaixin et al. | SPIE | 2002


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