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    Titel :

    Defect-enhanced Auger recombination and high-carrier-density phenomena in low-temperature grown GaAs


    Beteiligte:
    Sosnowski, T.S. (Autor:in) / Norris, T.B. (Autor:in) / Grenier, P. (Autor:in) / Whitaker, J.F. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1997


    Format / Umfang :

    296616 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch





    High-Carrier-Density Pump-Probe Measurements of Low-Temperature Grown GaAs

    Sosnowski, T. S. / Norris, T. B. / Wang, H. H. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997


    Ultrafast Carrier Lifetime in Low-Temperature Grown GaAs, InP and InGaP

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994


    Ultrafast carrier lifetime in low-temperature grown GaAs, InP and InGaP

    Kostoulas, Y. / Ucer, K.B. / Waxer, L. et al. | IEEE | 1994