Measured pulse duration and band-gap scaling of the laser breakdown threshold in oxide dielectrics is explained by multiphoton and impact ionization, and relaxation. Formation of self-trapped excitons on a sub-ps time scale is observed.


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    Titel :

    Scaling laws of femtosecond laser induced breakdown in dielectric films


    Beteiligte:
    Mero, M. (Autor:in) / Liu, J. (Autor:in) / Sabbah, A.J. (Autor:in) / Zeller, J. (Autor:in) / Afsing, P.M. (Autor:in) / McIver, J.K. (Autor:in) / Rudolph, W. (Autor:in) / Jasapara, J. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2004


    Format / Umfang :

    125950 byte



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch





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