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    Titel :

    Transient Measurements With A Photoconductively Gated Scanning Tunneling Microscope


    Beteiligte:
    Keil, U.D. (Autor:in) / Jensen, J.R. (Autor:in) / Hvam, J.M. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1997


    Format / Umfang :

    352593 byte




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Englisch



    Spatiotemporal measurements with an ultrafast scanning tunneling microscope

    Jensen, J.R. / Keil, U.D. / Hvam, J.M. | IEEE | 1997



    Transient Simulation of Scanning Electrochemical Microscope

    Mačák, M. / Vyroubal, P. | TIBKAT | 2020


    A Compatible Atomic Force and Scanning Tunneling Microscope System

    Li, C. / Song, J. / Li, S. et al | British Library Online Contents | 1999