An inspection apparatus (800) reduces the signal intensity of a low-frequency component included in chronological data for the measured value of longitudinal force and generates chronological data for a high-frequency component of the longitudinal force. The inspection apparatus (800) calculates the amount of deviation in line on the basis of the chronological data for the high-frequency component of the longitudinal force.

    L'invention concerne un appareil d'inspection (800) réduisant l'intensité de signal d'une composante basse fréquence incluse dans des données chronologiques pour la valeur mesurée de force longitudinale et générant des données chronologiques pour une composante haute fréquence de la force longitudinale. L'appareil d'inspection (800) calcule la quantité de déviation en ligne sur la base des données chronologiques pour la composante haute fréquence de la force longitudinale.

    検査装置(800)は、前後方向力の測定値の時系列データに含まれる低周波成分の信号強度を低減し、前後方向力の高周波成分の時系列データを生成する。検査装置(800)は、前後方向力の高周波成分の時系列データに基づいて、通り狂い量を算出する。


    Zugriff

    Download


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD, AND PROGRAM


    Weitere Titelangaben:

    SYSTÈME D'INSPECTION, PROCÉDÉ D'INSPECTION, ET PROGRAMME
    検査システム、検査方法、およびプログラム


    Beteiligte:
    NAKAGAWA JUNICHI (Autor:in) / SHIMOKAWA YOSHIYUKI (Autor:in) / SHINAGAWA DAISUKE (Autor:in) / GOTO OSAMU (Autor:in) / MINAMI HIDEKI (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    2019-03-07


    Medientyp :

    Patent


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Japanisch


    Klassifikation :

    IPC:    B61K Andere Hilfseinrichtungen für Eisenbahnen , OTHER AUXILIARY EQUIPMENT FOR RAILWAYS / G01B MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS , Messen der Länge, der Dicke oder ähnlicher linearer Abmessungen



    INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD, AND PROGRAM

    NAKAGAWA JUNICHI / SHINAGAWA DAISUKE | Europäisches Patentamt | 2021

    Freier Zugriff

    INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD AND PROGRAM

    NAKAGAWA JUNICHI / SHIMOKAWA YOSHIYUKI / SHINAGAWA DAISUKE et al. | Europäisches Patentamt | 2021

    Freier Zugriff

    INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD, AND PROGRAM

    NAKAGAWA JUNICHI / SHIMOKAWA YOSHIYUKI / SHINAGAWA DAISUKE et al. | Europäisches Patentamt | 2023

    Freier Zugriff

    INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD, AND PROGRAM

    NAKAGAWA JUNICHI / SHIMOKAWA YOSHIYUKI / SHINAGAWA DAISUKE et al. | Europäisches Patentamt | 2020

    Freier Zugriff

    INSPECTION SYSTEM, INSPECTION METHOD AND PROGRAM

    NAKAGAWA JUNICHI / SHIMOKAWA YOSHIYUKI / SHINAGAWA DAISUKE et al. | Europäisches Patentamt | 2017

    Freier Zugriff