The failure diagnostic method of the present invention is provided with: a parameter value acquisition step S1 for acquiring a plurality of parameter values that are included in an input signal Si and an output signal So of actual equipment 5; a failure detection step S2 for calculating a Mahalanobis distance relative to a unit space on the basis of the acquired parameter values using the Mahalanobis-Taguchi method, and diagnosing whether a failure has occurred in the actual equipment 5 on the basis of the calculated Mahalanobis distance; a failure location estimation step S3 for estimating a failure location in the actual equipment 5 on the basis of the Mahalanobis distance calculated in the failure detection step S2; and a match determination step S5 for creating a failure analysis model M for analyzing the actual equipment 5, on the basis of the failure location in the actual equipment 5 as estimated in the failure location estimation step S3, and determining whether an analysis output signal Sv for the actual equipment 5, which is obtained by analyzing the failure analysis model M, matches the output signal So output from the actual equipment 5.

    La présente invention concerne un procédé de diagnostic de défaillance comprenant : une étape d'acquisition de valeurs de paramètre S1 consistant à acquérir une pluralité de valeurs de paramètre qui sont incluses dans un signal d'entrée Si et un signal de sortie So d'un équipement réel (5) ; une étape de détection de défaillance S2 consistant à calculer une distance de Mahalanobis par rapport à une unité spatiale sur la base des valeurs de paramètre acquises au moyen de la méthode de Mahalanobis-Taguchi, et à diagnostiquer si une défaillance est survenue dans l'équipement réel (5) sur la base de la distance de Mahalanobis calculée ; une étape d'estimation d'emplacement de défaillance S3 consistant à estimer un emplacement de défaillance dans l'équipement réel (5) sur la base de la distance de Mahalanobis calculée à l'étape de détection de défaillance S2 ; et une étape de détermination de concordance S5 consistant à créer un modèle d'analyse de défaillance M pour analyser l'équipement réel (5), sur la base de l'emplacement de défaillance dans l'équipement réel (5) estimé à l'étape d'estimation d'emplacement de défaillance S3, et à déterminer si un signal de sortie d'analyse Sv pour l'équipement réel (5), qui est obtenu par analyse du modèle d'analyse de défaillance M, correspond au signal de sortie So délivré par l'équipement réel (5).

     実機5の入力信号Si及び出力信号Soに含まれる複数のパラメータ値を取得するパラメータ値取得工程S1と、マハラノビス・タグチメソッドを用いて、取得したパラメータ値に基づいて、単位空間からのマハラノビス距離を算出し、算出した前記マハラノビス距離に基づいて、実機5に不具合が発生したか否かを診断する不具合検知工程S2と、不具合検知工程S2において算出されるマハラノビス距離に基づいて、実機5の不具合箇所を推定する不具合箇所推定工程S3と、不具合箇所推定工程S3において推定した実機5の不具合箇所に基づいて、実機5を解析する不具合解析モデルMを構築し、不具合解析モデルMを解析することで得られる実機5の解析出力信号Svと、実機5から出力される出力信号Soとが整合するか否かを判定する整合判定工程S5とを備える。


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    Titel :

    FAILURE DIAGNOSTIC METHOD AND FAILURE DIAGNOSTIC SYSTEM


    Weitere Titelangaben:

    PROCÉDÉ DE DIAGNOSTIC DE DÉFAILLANCE ET DISPOSITIF DE DIAGNOSTIC DE DÉFAILLANCE
    不具合診断方法及び不具合診断システム


    Beteiligte:
    NAGASE TETSUYA (Autor:in)

    Erscheinungsdatum :

    2016-08-04


    Medientyp :

    Patent


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Japanisch


    Klassifikation :

    IPC:    G05B Steuer- oder Regelsysteme allgemein , CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL / B64G Raumfahrt , COSMONAUTICS



    FAILURE DIAGNOSTIC METHOD AND FAILURE DIAGNOSTIC SYSTEM

    NAGASE TETSUYA | Europäisches Patentamt | 2019

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    FAILURE DIAGNOSTIC DEVICE AND FAILURE DIAGNOSTIC METHOD

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    FAILURE SIGN DIAGNOSTIC DEVICE AND FAILURE SIGN DIAGNOSTIC METHOD

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