L'invention concerne un procédé de mesure de l'épaisseur d'une couche de matériau caoutchouteux, cette couche de matériau comportant une face libre en contact avec l'air et une face liée à une armature adjacente constituée d'éléments isolés électriquement les uns des autres et contenant au moins un matériau hystérétique de perméabilité magnétique supérieure à la perméabilité magnétique de l'air. Ce procédé comprend les étapes suivantes : Une étape au cours de laquelle on approche de la couche de matériau dont on souhaite mesurer l'épaisseur un élément sensible émettant un champ magnétique alternatif, Une étape au cours de laquelle on mesure des pertes hystérétiques dans l'armature adjacente, mesurées aux bornes de l'élément sensible, et Une étape au cours de laquelle on évalue l'épaisseur de la couche de matériau en fonction de ses pertes hystérétiques.
PROCEDE DE MESURE DE L'EPAISSEUR D'UNE COUCHE DE MATERIAU CAOUTCHOUTEUX
2016-06-24
Patent
Elektronische Ressource
Französisch
SYSTEME DE MESURE DE L'EPAISSEUR D'UNE COUCHE DE GOMME D'UN PNEUMATIQUE
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