Vorgeschlagen wird ein Verfahren zur Temperaturüberwachung eines als JFET gebildeten Leistungshalbleiters einer Schaltungsanordnung eines Inverters mit mindestens einer Phase, wobei die Temperaturüberwachung des JFET erfolgt, indem eine Messung einer Änderung der Schwellenspannung der zwischen Gate und Source oder zwischen Gate und Drain gebildeten parasitären Diode des JFET oder eine Messung einer Änderung des differentiellen Widerstands zwischen Drain und Source erfolgt, und basierend auf den gemessenen Werten eine aktuelle Temperatur des JFET bestimmt wird. Ferner wird eine entsprechende Schaltungsanordnung vorgeschlagen.
Verfahren und Schaltungsanordnung zur Temperaturüberwachung eines als JFET gebildeten Leistungshalbleiters einer Schaltungsanordnung eines Inverters
07.11.2024
Patent
Elektronische Ressource
Deutsch
IPC: | G01K MEASURING TEMPERATURE , Messen der Temperatur / B60L PROPULSION OF ELECTRICALLY-PROPELLED VEHICLES , Antrieb von elektrisch angetriebenen Fahrzeugen / H01L Halbleiterbauelemente , SEMICONDUCTOR DEVICES / H02H EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS , Schutzschaltungsanordnungen / H02M APPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS , Anlagen zur Umformung von Wechselstrom in Wechselstrom, von Wechselstrom in Gleichstrom oder umgekehrt, oder von Gleichstrom in Gleichstrom und zur Verwendung in Netzen oder ähnlichen Stromversorgungssystemen |
Schaltungsanordnung zur Abkopplung eines Akkumulators eines Inverters
Europäisches Patentamt | 2024
|Europäisches Patentamt | 2025
|Europäisches Patentamt | 2025
|Europäisches Patentamt | 2025
|Europäisches Patentamt | 2025
|