Offenbart ist ein Verfahren zum Ermitteln einer erwarteten Kontur einer mobilen oder stationären Vorrichtung zum Vermeiden von Kollisionen mittels mindestens einer vorrichtungsinternen oder vorrichtungsexternen Steuereinheit, wobei eine Bewegungstrajektorie der Vorrichtung, welche Wahrscheinlichkeitsdichten aus Zustandsschätzung zumindest mit Erwartungswerten und Kovarianzen enthält, durch einen Anwender oder die mindestens eine Steuereinheit berechnet wird, ein Basis-Polyeder und eine näherungsweise Kontur der Vorrichtung mit einer begrenzten Anzahl an Ecken durch einen Benutzer bestimmt wird, ein Konfidenzintervall, innerhalb welches eine Kollision mit dem statischen und dynamischen Umfeld der Vorrichtung vermieden wird, definiert wird, der Basis-Polyeder an die mindestens eine die Zustandsschätzung beschreibende Wahrscheinlichkeitsdichte der Bewegungstrajektorie durch die mindestens eine Steuereinheit transformiert wird, für jede Ecke des transformierten Basis-Polyeders eine transformierte Vorrichtungskontur durch die mindestens eine Steuereinheit berechnet und die erwartete Kontur der Vorrichtung unter Einbeziehung aller transformierter Vorrichtungskonturen ermittelt wird. Des Weiteren ist ein System offenbart.
A method for ascertaining an expected contour of a mobile or stationary device for avoiding collisions, using at least one control unit that is internal external to the device includes: obtaining a movement trajectory of the device, which contains probability densities based on state estimation, at least based on expected values and covariances; obtaining a base polyhedron and an approximate contour of the device having a limited number of corners, a confidence interval within which a collision with the static and dynamic surroundings of the device is to be avoided being defined; transforming the base polyhedron to the at least one probability density of the movement trajectory that describes the state estimation; and, for each corner of the transformed base polyhedron, computing a transformed device contour, and ascertaining the expected contour of the device with inclusion of all transformed device contours.
Verfahren und System zum Ermitteln einer erwarteten Vorrichtungskontur
2019-11-14
Patent
Elektronische Ressource
Deutsch
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