Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Parametrieren einer Aufzugsanlage 1, sowie eine Aufzugsanlage 1, die zur Ausführung des erfindungsgemäßen Verfahrens geeignet ist. Dabei werden über eine Bedienoberfläche 24, die mit einer Steuerung 21 der Aufzugsanlage in Verbindung steht Informationen angezeigt und eingegeben, um eine gewünschte Funktion der Aufzugsanlage 1 einzustellen. Ein Monteur wählt die von ihm gewünschte Parametrierungsaufgabe auf der Bedienoberfläche 24 aus und kann dann in einem einzigen entsprechenden Funktionsmenü alle Einstellungen vornehmen, die für diese Aufgabe notwendig sind. Da in diesem Funktionsmenü auch Informationen über den aktuellen Zustand der Aufzugsanlage anzeigt werden, hat der Monteur außerdem ein sofortiges Feedback wie sich seine Einstellungen auf die Anlage auswirken. So kann er beispielsweise ohne einen Wechsel des Menüs sofort erkennen welche Klemmen der Steuerung belegt sind, oder welche Spannung anliegt. So wird dem Monteur die bisherige, hoch komplizierte, Parametrierung erheblich erleichtert und dadurch schneller und einfacher eine optimale Funktion des Aufzugs erreicht.


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    Titel :

    Verfahren zum Parametrieren einer Aufzugsanlage und Aufzugsanlage mit einer Bedienoberfläche zur Parametrierung


    Beteiligte:

    Erscheinungsdatum :

    21.04.2016


    Medientyp :

    Patent


    Format :

    Elektronische Ressource


    Sprache :

    Deutsch


    Klassifikation :

    IPC:    B66B Aufzüge , ELEVATORS



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